電話：0755-82515004
手機(jī)：13760205028
公司地址：深圳市福田區(qū)深南中路3037號南光捷佳大廈Email：liu56817@126.com
QQ：528642442
國家標(biāo)準(zhǔn)試塊
國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11345—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測
技術(shù)、檢測等級和評定》、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容要求試塊共分五大類，共計28塊。(φ3mm橫孔靈敏度試塊、縱波靈敏度試塊、橫波靈敏度
試塊、槽型基準(zhǔn)靈敏度試塊、串列式試塊。)
國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11345—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 技術(shù)、檢測等級和評定》、GB/T 29711—2013 《焊縫無損檢測 超聲檢測
焊縫中的顯示特征》、GB/T 29712—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 驗收等
級》于2013年9月18日頒布、2014年6月1日實施。該系列標(biāo)準(zhǔn)為推薦性標(biāo)準(zhǔn)，分別對應(yīng)焊縫超聲檢測的技術(shù)方法
和檢測等級、顯示特征判定以及焊縫質(zhì)量驗收三個方面，代替GB/T 11345—1989標(biāo)準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)中明確給出設(shè)定參
考靈敏度的要求，但沒有給出標(biāo)準(zhǔn)試塊圖紙，因此各行業(yè)需根據(jù)使用不同，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計了多種試塊，為規(guī)范
試塊設(shè)計，汲取各行業(yè)設(shè)計之優(yōu)點(diǎn)*終設(shè)計出整套標(biāo)準(zhǔn)試塊。本套試塊為**產(chǎn)品，本手冊僅供參考學(xué)習(xí)，請 勿用于任何商業(yè)活動。
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容要求試塊共分五大類，共計28塊。(φ3mm橫孔靈敏度試塊、縱波靈敏度試塊、橫波靈敏度 試塊、槽型基準(zhǔn)靈敏度試塊、串列式試塊。)
一、φ3mm橫孔靈敏度試塊
該類試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)1及附錄E的要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)1中橫波及縱波檢測以φ3mm橫孔為基準(zhǔn)設(shè)定靈敏度，試塊依據(jù)檢測范圍的不同共設(shè)計五塊試塊，試塊設(shè)計內(nèi)容見下表。
|
序號 |
試塊代號 |
試塊名稱 |
標(biāo)準(zhǔn)反射體(mm) |
檢測范圍(mm) |
|
1 |
SD-1 |
φ3mm橫孔試塊 |
φ3×40橫孔 |
8≤t≤15 |
|
2 |
SD-2 |
φ3mm橫孔試塊 |
φ3×40橫孔 |
15<t≤20 |
|
3 |
SD-3 |
φ3mm橫孔試塊 |
φ3×40橫孔 |
20<t≤40 |
|
4 |
SD-4 |
φ3mm橫孔試塊 |
φ3×40橫孔 |
40<t≤100 |
|
5 |
SD-5 |
φ3mm橫孔試塊 |
φ3×40橫孔 |
t>100 |
二、縱波靈敏度試塊
該類試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)2要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)2中縱波檢測以平底孔為基準(zhǔn)反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據(jù)檢測范圍及平底孔直徑的不同共設(shè)計兩個系列七塊試塊，ZL-I系列為<40mm縱波靈敏度試塊，ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊?？v波靈敏度試塊設(shè)計內(nèi)容見下表。
3、橫波靈敏度試塊
該類試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)2的要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)2中橫波 檢測以平底孔為基準(zhǔn)反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據(jù)檢測
范圍、平底孔直徑及所用探頭角度的不同共設(shè)計四個系列十二塊試塊。
4、槽型基準(zhǔn)靈敏度試塊
山東瑞祥模具有限公司|試塊
該試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)3要求而設(shè) 計，該類試塊以寬度和深度均為1mm 的矩形槽作為基準(zhǔn)反射體，適用于斜探 頭(折射角度≥70°)檢測焊縫厚度為
8mm~15mm時靈敏度的設(shè)定。槽型靈 敏度試塊的設(shè)計內(nèi)容見下表。
5、串列式試塊
該試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)4的要求而設(shè)計，該試塊僅適用于斜探頭折射角為45°，采 用串列式檢測厚度≥15mm的焊縫時靈敏度的設(shè)定。串列式試塊的設(shè)計內(nèi)容見下表。
